Zubehör

Hitachi bietet für jede Anforderung ein passendes SEM Gerät von Tabletop bis hin zu Kaltfeldemission. Jedes System hat seine eigenen Vorteile, um stets das Beste für Sie herauszuholen. Neben den hier aufgeführten Systemen bietet Hitachi auch Lösungen für TEM und FIB. Fragen Sie uns einfach und wir helfen Ihnen gerne.

Alt TextpdfÜbersicht aller Hitachi Systeme

Deben Mikroskopiezubehör

Colour Deben logo JPEG 2 1

Deben produziert Zubehör für Elektronenmikroskope. Im Speziellen wird auch diverses Zubehör für Hitachi Tisch-Elektronenmikroskope produziert und angeboten.

  • SEM Chamberscope mit hochauflösender Kamera mit IR-Beleuchtung
  • Coolstage mit Temperaturbereich von -25°C ... +50°C
  • Ultra Coolstage, Temperaturbereich von -50°C ... +50°C
  • XY Autostage für TM's mit Joystick und Positionsspeicher
  • 200N oder 300N Zug- und Druck Probentisch
  • Kipp- und Rotationsstage für TM's

Optionen und Zubehör

  • 3D View Software Paket für die Berechnung der und Zubehör Z-Achse und die erweiterte Darstellung der 3. Dimension (Rauheit usw.)
  • Motorisierte Probentische
  • Kühltische für die Analyse von flüchtigen (im Vakuum) Proben
  • Zone Sample Cleaner Hitachi zur Entfernung von Kohlenwasserstoffen
  • Carbon und Gold Sputtergeräte für die Bedampfung der Proben mit Kohlenstoff oder Gold
  • Quantomix Probenhalter für die direkte Messung von Proben im flüssigen Zustand
  • Probenteller, Carbonpads, Resolutionsstandards, usw.      ...siehe Verbrauchsmaterial

Portmann Instruments AG
Gewerbestrasse 18
CH-4105 Biel-Benken
Tel. 061 726 65 55
Diese E-Mail-Adresse ist vor Spambots geschützt! Zur Anzeige muss JavaScript eingeschaltet sein!