Identifizierung unbekannter Komponenten an Oberflächen (Interfaces, Multilayer), oder isolierte / einzelne Proben bei Prozess-Kontaminationen, Rückstände oder Fremdsubstanzen
- Direkte chemische Identifizierungen an Oberflächen/Interfaces
- Tiefenprofil(e) mit Struktur- und Dimensionsangaben (z.B. Multilayer)
- Strukturaufklärung chemischer Komponenten (IR-spektroskopisch, IR-Datenbanken-Recherchen)
Quantifizierungen via IR-Spektroskopie (organische/anorganische Substanzen)
Messung Raumluftkontamination(z.B. Silikone, Fette, Öle) im Spurenbereich bei Produktionsräumlichkeiten (Elektronische Fertigung, High-Tech Forschungsanlagen) mit «Specular Reflectance» Messtechnik
Allgemeine analytische Probleme bzw. Fragestellungen aus dem QK-Labor, Prozessüberwachung (on-/off-line) und dem Forschungslabor
Sollten andere Analysetechniken erforderlich sein (chromatographische bis gekoppelte Techniken wie LC/GC-MS oder klassische Analyseverfahren), sind diese via Kooperationspartner verfügbar.