ApplikationssupportMit unserem Applikationssupport unterstützen wir Sie bei Methoden-Entwicklungen und weiteren Anwendungen, jeweils zugeschnitten auf Ihre konkrete Problemstellung. Untersuchungstechnologien für Oberflächen/Grenzflächen und Interfaces/MultilayerUntersuchungen mit IR spektroskopischen Methoden und mikroskopischen Technologien: ATR, Abgeschwächte Total-Reflexion
DRIFT, Diffuse Reflectance Infrared Fourier Transformation Direkte Reflexion (Grazing Angle)
IR-Imaging/IR-Mikroskop mit Array Detektor
REM (Raster-Elektronen-Mikroskopie) mit EDS (Energiedispersive Spektroskopie) gekoppelt
Licht- und Stereomikroskopie, konfokale Mikroskopie (externer Kooperationspartner) AFM, Atomic Force Microscopy (externer Kooperationspartner) Allgemeine analytische Probleme oder Fragestellungen
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