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Hitachi propose pour chaque application un MEB correspondant, du système de table jusqu’au système à émission de champ froid. Chaque système à ses avantage et nous saurons trouver lequel vous conviendra. En plus des systèmes présentés ci-dessous, Hitachi propose des solutions en TEM et FIB. N’hésitez pas à nous demander, nous sommes là pour vous accompagner.

 
 Hitachi uebersicht
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Aperçu de la gamme complète Hitachi
 
 

Système avec source Schottky pour une prise d’image à haute résolution avec une grande flexibilité pour le travail analytique.

  • Le bourreau de travail de l’émission de champ, utilisation simple pour de haute performance
  • Assistance par software pour les techniciens débutants
  • Idéal pour l’industrie et les grandes cadences de travail
 
SU5000
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SU5000
Brochure
  • Pour les utilisateurs expérimentés en industrie et recherche
  • Lecture en parallèle jusqu’à 6 signaux
  • 6 @ 6 Formel, optimisation de tous les signaux à une distance de travail de 6mm
  • 18 ports pour tous les types de détecteurs et équipements additionnels (UVD, CL, STEM, EDX, WDX, EBSD...)
 
SU7000
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SU7000
Brochure

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specac

hitachi

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Czitek bearbeitet 3

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Portmann Instruments AG, Gewerbestrasse 18, CH-4105 Biel-Benken, Tél. +41 61 726 65 55, Fax +41 61 726 65 50

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