Logo

Hitachi propose pour chaque application un MEB correspondant, du système de table jusqu’au système à émission de champ froid. Chaque système à ses avantage et nous saurons trouver lequel vous conviendra. En plus des systèmes présentés ci-dessous, Hitachi propose des solutions en TEM et FIB. N’hésitez pas à nous demander, nous sommes là pour vous accompagner.

 
 Hitachi uebersicht
 pdf
Aperçu de la gamme complète Hitachi
 
 

La série Hi-Meb d’Hitachi, axé sur la source Tungstène, offre une grande flexibilité. Débutant avec le microscope électronique de table, comme évolution de la microscopie optique, jusqu’au microscope MEB pour les applications quotidiennes avec avec de gros échantillons. A chaque application son système MEB.

  • MEB universel pour pour les applications quotidiennes
  • Echantillon jusqu’à 300mm de diamètre et 130mm de hauteur
  • Fonction automatique pour faciliter les manipulations
  • Mode de vide variable en standard sur l’équipement
  • Détecteurs BSE et SE en standard avec possibilités d’extension (UVD, EDX etc.)
 
SU3900
pdf
SU3800/3900
Brochure

LOGO JASCO 300dpi 2

specac

hitachi

agilent channel partner

Czitek bearbeitet 3

peak scientific

Logo Spectra Analysis

lab cognition 180px

Goojung logo bearbeitet

 

Portmann Instruments AG, Gewerbestrasse 18, CH-4105 Biel-Benken, Tél. +41 61 726 65 55, Fax +41 61 726 65 50

Les cookies nous permettent plus facilement de vous proposer des services. En utilisant nos services, vous nous autorisez à utiliser des cookies.