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Hitachi propose pour chaque application un MEB correspondant, du système de table jusqu’au système à émission de champ froid. Chaque système à ses avantage et nous saurons trouver lequel vous conviendra. En plus des systèmes présentés ci-dessous, Hitachi propose des solutions en TEM et FIB. N’hésitez pas à nous demander, nous sommes là pour vous accompagner.

 
 Hitachi uebersicht
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Aperçu de la gamme complète Hitachi
 
 

Hitachi a développé un système de polissage pour les différentes coupes d’échantillon ou tous segments par une ionisation à l’argon. Cette technologie vous offre la meilleur qualité possible de surface et une simplicité de maniement. Des surfaces propres, sans marque de découpe, sont optimales pour les analyses IR ou en microscopie. Dépendant de l’application, deux modèles sont disponibles, le IM4000Plus ou le (IM5000 Ar-Blade)

  • Gamme d’accélérationg=0...6 kV(8kV)
  • Fraisage jusqu’à 500 (1000) μm/h
  • Découpe jusqu’à 10mm de large (IM5000)
  • Dimension maximale de l’échantillon —> 20 mm x 12 mm x 9 mm (L x D x H)
  • Dimension maximal en polissage —> D=50 mm x H=25 mm
  • Table équipée complète ainsi que support pour une utilisation facile
  • En option, système de refroidissement pour les échantillons sensibles à la température et protection contre l’air pour les échantillons sensibles
  • Système de vide avec pompe primaire et pompe turbomoléculaire (TMP)
 
IM4000 Plus IM5000AR
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IM4000Plus
Brochure
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IM5000 Ar Blade
Brochure

Vous trouverez dans notre catalogue tous les produits détaillés.

  • Support pour échantillons de tous types
  • Pad Carbone
  • Standard de résolutions différentes
  • Portes échantillons Quantomix pour la manipulation direct des échantillons liquide ou humide
  • Etc…
 
Vorschau 4000 Vorschau 5000
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IM 4000
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IM 5000

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Portmann Instruments AG, Gewerbestrasse 18, CH-4105 Biel-Benken, Tél. +41 61 726 65 55, Fax +41 61 726 65 50

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