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Hitachi propose pour chaque application un MEB correspondant, du système de table jusqu’au système à émission de champ froid. Chaque système à ses avantage et nous saurons trouver lequel vous conviendra. En plus des systèmes présentés ci-dessous, Hitachi propose des solutions en TEM et FIB. N’hésitez pas à nous demander, nous sommes là pour vous accompagner.

 
 Hitachi uebersicht
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Aperçu de la gamme complète Hitachi
 
 
  • Microscope de table compact (L x P x H: 330 mm x 617 mm x 547 mm), sans besoin d’autre ressource, directement sur la paillasse.
  • Grossissement de 10x à 100'000x (250'000x)
  • Tension d’accélération de 5 kV, 10kV, 15 kV et 20kV
  • Bonne profondeur de champ grâce à la construction de l’optique du faisceau électron
  • Utilisation facile – chacun peut travailler avec
  • En option, table automatisée x,y et camera optique pour une meilleure navigation
  • Contraste des éléments grâce au détecteur d’électron rétro diffusé BSE (Détecteur BSE et UVD pour la visualisation des électrons secondaires de type SE), également Mix BSE et SE
  • Différents modes de visualisation pour une vue en topographie ou séparation des éléments
  • Recomposition d’image MEB à partir de plusieurs prises de vue (Stitching) (Fonction Multi ZigZag)
  • Fonction d’optimisation électronique de l’image pour une amélioration de la luminosité et du contraste
  • Report Creator pour un rapport personnalisé
  • Deux modes de vide pour une réduction des effets de charge
  • Outil logiciel pour la mesure des distances
  • En option, possible d’équiper un détecteur EDX (voir ci-dessous)
 
TM4000
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TM4000 II
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  • MEB compact à pression variable
  • Haute performance optiques pour un petit encombrement
  • Pas besoin d’infrastructure externe
  • Connexion électrique et PC standard
  • Grossissement jusqu’à 300'000x
  • Accélération variable de 300V à 20kV
  • Fonction MEB-Map pour un positionnement et visualisation facilitée
  • Table à 5 axes pour une flexibilité complète
 
Flex SEM 1000
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FlexSEM 1000 II
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Pour les microscopes électroniques TM4000 II et FlexSEM II, Oxford Instruments et Bruker Nano ont développé des détecteurs EDX adapté pour la détection des éléments. Pour tous les autres systèmes de la gamme MEB Hitachi, tous les détecteurs standards du marché sont disponibles.

  • Sans besoin de service, détecteur SDD à haute performance avec détetection des éléments par système SATW de 30mm2 et refroidissement Peltier
  • Résolution < 137 eV @ MnKa ou < 158 eV @ CuKa
  • Pour tous les éléments du Bore (B, Z=5) à l’Uranium (U, Z=92)
  • Mesure de points, cartographie (TrueMap) et analyse de ligne
  • Monitoring Live du spectre possible (AZtecLive One)
  • Mesure qualitative et quantitative (semi-quantitative)
  • Utilisation intuitive, construction du logiciel permettant un export simple sur Windows Office et retraitement des images possible
  • Détecteur performant SDD avec élément de 30mm2 et refroidissement peltier
  • Résolution < 129 eV @ MnKa ou < 148 eV @CuKa
  • Pour tous les éléments du Bore (B, Z=5) au Californium (Cf, Z=98)
  • Mesure de points, cartographie et analyse de ligne
  • Mesure qualitative et quantitative (semi-quantitative)
  • Logiciel complet disponible en plusieurs langues disposant de beaucoup d’options et possibilités
 
Quantax 75
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Quantax 75
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