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Hitachi propose pour chaque application un MEB correspondant, du système de table jusqu’au système à émission de champ froid. Chaque système à ses avantage et nous saurons trouver lequel vous conviendra. En plus des systèmes présentés ci-dessous, Hitachi propose des solutions en TEM et FIB. N’hésitez pas à nous demander, nous sommes là pour vous accompagner.

 
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Aperçu de la gamme complète Hitachi
 
 

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Deben produit des accessoires pour la microscopie électronique. Nous proposons spécifiquement les accessoires destinés au microscope électronique de table de la gamme Hitachi.

  • SEM chamberscope avec caméra IR à haute résolution
  • Chambre thermostabilisée avec gamme de travail de -25 °C à +50 °C
  • Ultra Coolstage de -50 °C à +50 °C
  • XY Autostage pour les TM avec joystick
  • 200 N ou 300 N table de pression
  • Table à rotation et tilt
  • Pack software 3-D pour la mesure de l’axe Z et vue de la coupe d’échantillon en 3 dimensions (rugosité, etc.)
  • Table échantillon motorisée
  • Table réfrigérée pour l’analyse des échantillons volatiles (sous vide)
  • Zone Sample Cleaner Hitachi pour l’élimination des traces d’hydrocarbure
  • Système de métalisation or ou carbone pour la couverture de l’échantillon par de l’or ou du carbone
  • Cellule quantomix pour la mesure de liquide en milieu liquide
  • Support échantillon, Pads carbone, standard de résolution, etc.

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Portmann Instruments AG, Gewerbestrasse 18, CH-4105 Biel-Benken, Tél. +41 61 726 65 55, Fax +41 61 726 65 50

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