Hitachi propose pour chaque application un MEB correspondant, du système de table jusqu’au système à émission de champ froid. Chaque système à ses avantage et nous saurons trouver lequel vous conviendra. En plus des systèmes présentés ci-dessous, Hitachi propose des solutions en TEM et FIB. N’hésitez pas à nous demander, nous sommes là pour vous accompagner.
DEBEN accessoires pour la microscopie
Deben produit des accessoires pour la microscopie électronique. Nous proposons spécifiquement les accessoires destinés au microscope électronique de table de la gamme Hitachi.
- SEM chamberscope avec caméra IR à haute résolution
- Chambre thermostabilisée avec gamme de travail de -25 °C à +50 °C
- Ultra Coolstage de -50 °C à +50 °C
- XY Autostage pour les TM avec joystick
- 200 N ou 300 N table de pression
- Table à rotation et tilt
Options et accessoires
- Pack software 3-D pour la mesure de l’axe Z et vue de la coupe d’échantillon en 3 dimensions (rugosité, etc.)
- Table échantillon motorisée
- Table réfrigérée pour l’analyse des échantillons volatiles (sous vide)
- Zone Sample Cleaner Hitachi pour l’élimination des traces d’hydrocarbure
- Système de métalisation or ou carbone pour la couverture de l’échantillon par de l’or ou du carbone
- Cellule quantomix pour la mesure de liquide en milieu liquide
- Support échantillon, Pads carbone, standard de résolution, etc.
