Microscope de table compact (L x P x H: 330 mm x 617 mm x 547 mm), sans besoin d’autre ressource, directement sur la paillasse.
Grossissement de 10x à 100'000x (250'000x)
Tension d’accélération de 5 kV, 10kV, 15 kV et 20kV
Bonne profondeur de champ grâce à la construction de l’optique du faisceau électron
Utilisation facile – chacun peut travailler avec
En option, table automatisée x,y et camera optique pour une meilleure navigation
Contraste des éléments grâce au détecteur d’électron rétro diffusé BSE (Détecteur BSE et UVD pour la visualisation des électrons secondaires de type SE), également Mix BSE et SE
Différents modes de visualisation pour une vue en topographie ou séparation des éléments
Recomposition d’image MEB à partir de plusieurs prises de vue (Stitching) (Fonction Multi ZigZag)
Fonction d’optimisation électronique de l’image pour une amélioration de la luminosité et du contraste
Report Creator pour un rapport personnalisé
Deux modes de vide pour une réduction des effets de charge
Outil logiciel pour la mesure des distances
En option, possible d’équiper un détecteur EDX (voir ci-dessous)
Portmann Instruments AG Gewerbestrasse 18 CH-4105 Biel-Benken Tél. 061 726 65 55 Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.