Skip to main content

TM4000 II (TM4000Plus II)

TM4000 II (TM4000Plus II)

Alt TextpdfTM4000 II Brochure

Microscope de table compact

  • Microscope de table compact (L x P x H: 330 mm x 617 mm x 547 mm), sans besoin d’autre ressource, directement sur la paillasse.
  • Grossissement de 10x à 100'000x (250'000x)
  • Tension d’accélération de 5 kV, 10kV, 15 kV et 20kV
  • Bonne profondeur de champ grâce à la construction de l’optique du faisceau électron
  • Utilisation facile – chacun peut travailler avec
  • En option, table automatisée x,y et camera optique pour une meilleure navigation
  • Contraste des éléments grâce au détecteur d’électron rétro diffusé BSE (Détecteur BSE et UVD pour la visualisation des électrons secondaires de type SE), également Mix BSE et SE
  • Différents modes de visualisation pour une vue en topographie ou séparation des éléments
  • Recomposition d’image MEB à partir de plusieurs prises de vue (Stitching) (Fonction Multi ZigZag)
  • Fonction d’optimisation électronique de l’image pour une amélioration de la luminosité et du contraste
  • Report Creator pour un rapport personnalisé
  • Deux modes de vide pour une réduction des effets de charge
  • Outil logiciel pour la mesure des distances
  • En option, possible d’équiper un détecteur EDX (voir ci-dessous)

Portmann Instruments AG
Gewerbestrasse 18
CH-4105 Biel-Benken
Tél. 061 726 65 55
Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer le JavaScript pour la visualiser.