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Détecteur à rayon X pour MEB

Détecteur à rayon X pour MEB

Pour les microscopes électroniques TM4000 II et FlexSEM II, Oxford Instruments et Bruker Nano ont développé des détecteurs EDX adapté pour la détection des éléments. Pour tous les autres systèmes de la gamme MEB Hitachi, tous les détecteurs standards du marché sont disponibles.


Portmann Instruments AG
Gewerbestrasse 18
CH-4105 Biel-Benken
Tél. 061 726 65 55
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