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Kompakt REM und TM

Hitachi bietet für jede Anforderung ein passendes SEM Gerät von Tabletop bis hin zu Kaltfeldemission. Jedes System hat seine eigenen Vorteile, um stets das Beste für Sie herauszuholen. Neben den hier aufgeführten Systemen bietet Hitachi auch Lösungen für TEM und FIB. Fragen Sie uns einfach und wir helfen Ihnen gerne.

Alt TextpdfÜbersicht aller Hitachi Systeme

TM4000 III (TM4000Plus III)

Alt TextpdfTM4000 III Broschüre

Reduzieren Sie Ihren Arbeitsaufwand und erzielen Sie gleichmässigere Ergebnisse.

  • Mehr Automatisierung mittels Macro Möglichkeiten für Bühnenbewegung, Vergrösserungseinstellungen und das Aufnehmen von Bildern.
  • Mode 5, die neue high-current Einstellung mit verbessertem Signal für Imaging und EDX-Analyse von Partikeln.

Planen Sie voraus

  • Das TM4000III ist mit einem System ausgestattet, welches erlaubt die übrige Lebensdauer der Filamente zu überwachen und damit zu verhindert, dass es dann ausfällt wenn es am meisten benötigt wird z.B. EDX Mapping Experimente.

Mehr Routine bei geringem Zeitbedarf

  • Die neuen Funktionen helfen Ihnen Ihre Qualitätskontrolle zu verbessern und zu standardisieren.

Hitachi FlexSEM 1000 II

Alt TextpdfFlexSEM 1000 II Broschüre

Kompaktes Variable Pressure SEM

Röntgendetektoren zu Kompakt REM und TM

Zum Hitachi TM4000 II sowie dem FlexSEM II Elektronenmikroskop wird von Oxford Instruments und von Bruker Nano je ein spezieller EDX Detektor für die Elementanalytik angeboten.

Oxford AZtecLiveOne

  • Wartungsfreier, hochleistungsfähiger SSD Detektor mit 30 mm2 SATW Element und Peltierkühlung
  • Auflösung < 137 eV @ MnKa oder < 158 eV @ CuKa

Bruker Quantax 75

Alt TextpdfQuantax 75 Broschüre

Leistungsfähiger SSD Detektor


Portmann Instruments AG
Gewerbestrasse 18
CH-4105 Biel-Benken
Tel. 061 726 65 55
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