Kompakt REM und TM

Hitachi bietet für jede Anforderung ein passendes SEM Gerät von Tabletop bis hin zu Kaltfeldemission. Jedes System hat seine eigenen Vorteile, um stets das Beste für Sie herauszuholen. Neben den hier aufgeführten Systemen bietet Hitachi auch Lösungen für TEM und FIB. Fragen Sie uns einfach und wir helfen Ihnen gerne.

Alt TextpdfÜbersicht aller Hitachi Systeme

TM4000 II (TM4000Plus II)

Alt TextpdfTM4000 II Broschüre

Kompaktes Tischmikroskop

Hitachi FlexSEM 1000 II

Alt TextpdfFlexSEM 1000 II Broschüre

Kompaktes Variable Pressure SEM

Röntgendetektoren zu Kompakt REM und TM

Zum Hitachi TM4000 II sowie dem FlexSEM II Elektronenmikroskop wird von Oxford Instruments und von Bruker Nano je ein spezieller EDX Detektor für die Elementanalytik angeboten.

Oxford AZtecLiveOne

  • Wartungsfreier, hochleistungsfähiger SSD Detektor mit 30 mm2 SATW Element und Peltierkühlung
  • Auflösung < 137 eV @ MnKa oder < 158 eV @ CuKa

Bruker Quantax 75

Alt TextpdfQuantax 75 Broschüre

Leistungsfähiger SSD Detektor


Portmann Instruments AG
Gewerbestrasse 18
CH-4105 Biel-Benken
Tel. 061 726 65 55
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